LaiPen LP100叶面积指数测量仪

测量原理：LaiPen LP 110使用广角光学传感器计算太阳辐射进而计算LAI和其他冠层结构属性。在冠层上方和下方进行五个不同角度的测量用于确定冠层光拦截，从中使用植物冠层中的辅射传递模型计算LAI。

LaiPen由科学家和工程师设计，为用户提供快速可靠的结果。与测量LAI的其他类似设备不同，LaiPen LP 110在大多数日光条件下都是准确的，并且不需要云层覆盖或特定的太阳角度以获得LAI。