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Features&Benefits（性能及优势）：
高分辨无损伤光学3D测量自动倾斜补偿
实时共焦成像简单的数据分析模式
多种光学变焦双Z扫描
大范围拼接半透明基材的特征检测
实时CCD明场和共聚焦成像无样品准备
自动聚焦
Applicationfield（应用领域）：
NS-3500是测量低维材料的有前途的解决方案。
可测量微米和亚微米结构的高度，宽度，角度，面积和体积，例如
-半导体:IC图形，凹凸高度，线圈高度，缺陷检测，CMP工艺
-FPD产品:触摸屏屏幕检测，ITO图案，LCD柱间距高度
-MEMS器件:结构三维轮廓，表面粗糙度，MEMS图形
-玻璃表面:薄膜太阳能电池，太阳能电池纹理，激光图案
-材料研究:模具表面检测，粗糙度，裂纹分析
https://www.chem17.com/st476532/erlist_2243785.html
http://www.nanoscopesystem.com/Products-35858214.html
原文链接：http://www.dtcchina.com/chanpin/show-85352.html，转载和复制请保留此链接。
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